晶圆减薄,是半导体器件生产的关键环节之一,用于去除晶圆背面多余的基体材料,以达到后期封装工艺所需的特定厚度;同时能够帮助改善芯片的散热效果。在碳化硅功率器件制造中,晶圆背面减薄工艺是决定器件热阻、导通损耗与批量良率的重要工序之一。由于碳化硅材料硬度高、难磨削,晶圆背面加工易产生崩边、微裂纹甚至破片,对减薄设备刚性、主轴抑振、载台控形及工艺闭环控制提出严苛要求。
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